Программа моделирования Кнудсеновской диффузии в высокоаспектных микроструктурах
Программа для ЭВМ RU 2024668570
Программа моделирования Кнудсеновской диффузии в высокоаспектных микроструктурах
Авторы: Руденко М.К.
Приоритет от 11.07.2024
Программа для ЭВМ RU 2024668570
Программа моделирования Кнудсеновской диффузии в высокоаспектных микроструктурах
Авторы: Руденко М.К.
Приоритет от 11.07.2024
Программа для ЭВМ RU 2023687602
Программа для анализа в реальном времени данных спектральной рефлектометрии с использованием моделей машинного обучения для решения обратной задачи (SpRA Tool)
Авторы: Гайдукасов Р. А., Мяконьких А. В.
Приоритет от 01.12.2023
Программа для ЭВМ RU 2023686496
Программа анализа шероховатости поверхностей и боковых стенок линий на микроскопических снимках полупроводниковых элементов
Авторы: Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Приоритет от 16.11.2023
Программа для ЭВМ RU 2023665031
Программа моделирования термического растекания резиста с неоднородным профилем вязкости
Авторы: Сидоров Ф.А., Рогожин А.Е.
Приоритет от 07.07.2023
Программа для ЭВМ RU 2023665024
Программа моделирования электронно-стимулированной термической деполимеризации резиста
Авторы: Сидоров Ф.А., Рогожин А.Е.
Приоритет от 07.07.2023
Программа для ЭВМ RU 2023664590
Программа моделирования криогенного плазменного травления NGCES
Авторы: Руденко М.К.
Приоритет от 03.07.2023
Программа для ЭВМ RU 2023663183
Программа анализа шероховатости боковых стенок элементов рентгеновской оптики с помощью атомно-силовой микроскопии
Авторы: Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Приоритет от 29.05.2023
Программа для ЭВМ RU 2022684200
Программа анализа растровой электронной микроскопии для оценки параметра шероховатости боковых стенок линий
Авторы: Лукичев В.Ф., Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Приоритет от 22.11.2022
Программа для ЭВМ RU 2019611985
Программа моделирования воздействия электронного пучка на полимеры при различных температурах с учетом процессов деполимеризации
Авторы: Сидоров Ф.А., Рогожин А.Е.
Приоритет от 12.12.2018
Программа для ЭВМ RU 2017613192
Программа моделирования процесса измерения состояния квантового регистра в канале полевого транзистора
Авторы: Руденко М.К.
Приоритет от 14.12.2016
© 2026 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки ФТИАН им. К.А. Валиева Российской академии наук