Программа для ЭВМ RU 2023686496
Программа анализа шероховатости поверхностей и боковых стенок линий на микроскопических снимках полупроводниковых элементов
Авторы: Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Приоритет от 16.11.2023
Программа для ЭВМ RU 2023686496
Программа анализа шероховатости поверхностей и боковых стенок линий на микроскопических снимках полупроводниковых элементов
Авторы: Пермякова О.О., Рогожин А.Е.
Приоритет от 16.11.2023
© 2024 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки ФТИАН им. К.А. Валиева Российской академии наук