15:00
И. Н. Трунькин (НИЦ КИ)
Электронно-микроскопические методы оценки параметров микроструктуры в системах A3B5 на атомном уровне.
(По материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
2016-05-24
15:00
И. Н. Трунькин (НИЦ КИ)
Электронно-микроскопические методы оценки параметров микроструктуры в системах A3B5 на атомном уровне.
(По материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
© 2001-2022 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки ФТИАН им. К.А. Валиева Российской академии наук