Об устойчивости к радиации элементов и систем наноэлектроники
15:00
П. А. Александров, В. И. Жук, В. Л. Литвинов, А. Б. Свечников (НИЦ «Курчатовский институт»)
Об устойчивости к радиации элементов и систем наноэлектроники
15:00
П. А. Александров, В. И. Жук, В. Л. Литвинов, А. Б. Свечников (НИЦ «Курчатовский институт»)
Об устойчивости к радиации элементов и систем наноэлектроники
15:00
Т. Г. Дмитриева (МИРЭА)
Локальная атомная и магнитная структура аморфных и нанокристаллических сплавов на основе Fe-B
(По материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
15:00
А. А. Целыковский (МИФИ)
Моделирование токовых характеристик графеновых полевых транзисторов
(по материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук)
15:00
Тимошенков В.П. (МИЭТ (Зеленоград), компания «Semitech» (США))
Научные основы схемотехники СВЧ систем на кристалле с использованием кремниевых гетероструктурных биполярных транзисторов
15:00
А. Н. Редькин (ИПТМ РАН (Черноголовка))
Контролируемый газофазный синтез наноструктур для наноэлектроники, фотоники и микросистемной техники
(По материалам диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук)
13:00
Л. А. Фомин (ИПТМ РАН)
Микромагнитные состояния эпитаксиальных микро- и наноструктур Fe(001) и Fe(011)
(по материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
14:00
S. Zimmermann (Fraunhofer ENAS, Germany)
Presentation of Fraunhofer ENAS Institute research activities and equipment
12:00
Д. А. Свинцов (ФТИАН)
Кинетические явления в структурах на основе графена и его модификаций
(по материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
15:00
Н. А. Орликовский (ФТИАН)
Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
(По материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)
15:00
В.В. Казьмирук (ИПТМ РАН, Черноголовка)
Разработка низковольтных электронно-зондовых диагностических и литографических систем высокой производительности
© 2024 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки ФТИАН им. К.А. Валиева Российской академии наук