Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах
13 сентября 2022 в 15-00 Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах (по материалам диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук)Подробнее