2012

  1. Бородин, Л.И. Диспропорционирование нитроксильных радикалов под действием серной кислоты / Л.И.Бородин, И.В.Тихонов // Материалы 65-й Всероссийской научно-технической конференции студентов, магистрантов и аспирантов высших учебных заведений с международным участием. (Ярославль, 18 апреля 2012 г.). – Ярославль: Изд-во ЯГТУ, 2012. Ч. 1. – С. 53.
  2. Kudrya, V.P. Efficiency of fast neutral particle beam sources based on gas-phase charge exchange processes / V.P.Kudrya // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P2-52.
  3. Lomov, A.A. A new possibility of high-resolution reciprocal space mapping for studies of structural defects / A.A.Lomov, V.P.Ulin, A.L.Vasiliev, M.A.Chuev, D.V.Novikov // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). – St. Petersburg, Russia, 2012. – Book of Abstracts. – Р. 173.
  4. Сивков, В.Н. Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния / В.Н.Сивков, А.А.Ломов, Б.В.Набатов, С.В.Некипелов, О.В.Петрова, Д.В.Вялых, С.Л.Молодцов // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. – С. 259.
  5. Ломов, А.А. Влияние структурных искажений пористых структур кремния на их оптические свойства / А.А.Ломов, М.А.Чуев, Б.В.Набатов, А.Л.Васильев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. – С. 296-297.
  6. Lomov, A. Fabrication and structural study of InxGa1-xAs layers on porous GaAs(001) substrates / A.Lomov, J.Grym, D.Nohavica, E.Hulicius, J.Pangrac, A.Orehov, A.Vasiliev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P. 2-37.
  7. Кальнов, В.А. Плазменные процессы глубокого травления кремния в технологии микросистемной техники / В.А.Кальнов, В.Ф.Лукичев, И.И.Амиров, А.К.Саломатин, В.М.Соловьев, Ю.В.Соловьев // Всеросс.науч-практ.конф.”Навигация, наведение и управление летательными аппаратами”. – М.-Раменское, 20-21 сент.2012. – С.78-79.
  8. Shikolenko, Yu. Investigation of plasma etching of Si and SiO2 through electron resist ZEP-7000 / Yu.Shikolenko, A.Antonovich, D.Lapin, V.Lukichev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – Р1-51.
  9. Makoviychuk, M.I. Low-frequency noise spectroscopy as a diagnostic tool to study of surfaces. / M.I.Makoviychuk // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P.138 – 139.
  10. Маковийчук, М.И. Импульсная фликкер-шумовая спектроскопия низкоразмерных кремниевых структур с квантовыми эффектами / М.И.Маковийчук // Труды XIII Международной научно-практической конференции «Современные информационные и электронные технологии» (4-8 июня 2012г., Одесса). – Одесса: Политехпериодика, 2012. – С. 266.
  11. Маковийчук, М.И. Экологический мониторинг газового и электромагнитного загрязнения окружающей среды / М.И.Маковийчук // Proceed. 5th Int. Scientific and Technical Conf. “Sensors Electronics and Microsystems Technology (SEMST-5)” – (June 4-8, 2012, Odessa, Ukraine). – С.272.
  12. Маковийчук, М.И. Анализ результатов, проблем и перспектив импульсной фликкер-шумовой спектроскопии / М.И.Маковийчук // Proceed. 6th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2012. (May 25 – 29, 2012, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2012. – P.255 – 259.
  13. Маковийчук, М.И. Локальные и коллективные структурные эффекты в оптоэлектронике / М.И.Маковийчук, А.А.Залуцкая, Д.Е.Афанасьева, В.А.Папорков, А.В.Проказников // Proceed. 6th Int. Workshop “Relaxed, Nonlinear and Acoustic Optical Processes; Materials – Growth and Optical Properties” – RNAOPM-2012. (May 25 – 29, 2012, Lutsk, Ukraine). – Lutsk: Volyn University Press “Vezha”, 2012. – P. 123-126.
  14. Маковийчук, М.И. Дефектно-примесная фликкер-шумовая спектроскопия ионно-имплантированного кремния / М.И.Маковийчук // Труды XXII Международной конференции «Радиационная физика твёрдого тела (РФТТ-2012)» / под ред. Г.Г.Бондаренко. – (Севастополь, 9–14 июля 2012 г.). – М.: ФГБНУ«НИИ ПМТ» – МИЭМ НИУ ВШЭ, 2012г., 712с. (ISBN 978-5-89671-019-6). – С. 120-126.
  15. Makoviychuk, M.I. Low-frequency noise spectroscopy as a diagnostic and prediction tool in surface physics, micro- and nanoelectronics / M.I.Makoviychuk // Труды VIII Международной конференции «Электроника и прикладная физика». (24 – 27 октября 2012г., Киев). – Киев: КНУ им. Т.Шевченко, 2012. – С. 84 – 85.
  16. Маковийчук, М.И. Физические принципы импульсной фликкер-шумовой спектроскопии низкоразмерных кремниевых структур / М.И.Маковийчук // Тезисы докладов XXIV конференции «Современная химическая физика» (20 сентября – 1 октября 2012г., Туапсе). – М.: «Парк – медиа», 2012. – С.88.
  17. Махвиладзе, Т.М. Modeling the electromigration and mechanical stresses in conductor lines containing impurities / Т.М.Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – С.Р2-43.
  18. Махвиладзе, Т.М. Деградация и разрушение тонкометаллических слоев в твердотельных структурах на подложках кремния, используемых в нано- и оптоэлектронике / Т.М.Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. – UID 121. О4. 06.
  19. Гольдштейн, Р.В. Моделирование кинетики неоднородной по объему преципитации кислорода в кристаллическом кремнии с учетом внутренних механических напряжений / Р.В.Гольдштейн, Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Книга тезисов IX Международной конференции и VIII Школы молодых ученых «Кремний-2012». Санкт-Петербург, 9-13 июля 2012. – UID 149, С. О1.15. (секционный).
  20. Levin, V. Effect of the moist porous silicon oxide layer on the electrical characteristics of memory cells / V.Levin, V.Mordvintsev, S.Kudryavtsev // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P2-21.
  21. Levin, V. Electrical properties of plasma-chemical silicon dioxide processed by boiling water in the metal-oxide-metal structure / V.Levin, V.Mordvintsev, S.Kudryavtsev // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – P. 130-131.
  22. Miakonkikh, A. Comparative Investigation of Ultra-shallow Boron Implantation into Bulk Silicon and SOI Structures by PIII technique / A.Miakonkikh, K Rudenko, V.Rudakov, A.Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P.О3-19.
  23. Miakonkikh, A. Properties of thin HfO2 gate dielectricformed in Atomic Layer Deposition process / A.Miakonkikh, A. Rogozhin, K. Rudenko, A. Orlikovsky // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P.О3-24.
  24. Miakonkikh, A. Deposition of HfO2 gate dielectric in ALD processes and its properties / A.Miakonkikh, A.Rogozhin, K.Rudenko, A.Orlikovsky // II Int.Conf. оn on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures (ICMPSN-2012), 23-25 May, 2012, Yaroslavl, Russia. -Yaroslavl:YB IPT RAS, 2012. – Р.25.
  25. Miakonkikh, A. Instrumented wafer as a Langmuir multiprobe tool for lateral plasma homogeneity measurements in processing plasma reactors / A.Miakonkikh, S. Lisovsky, M. Rudenko, K. Rudenko // Int.Conf.“Micro- and nanoelectronics (ICMNE-2012)”. Oct 1-5, 2012, Moscow-Zvenigorod. – Book of Abstracts. – P.Р1-48.
  26. Orlikovsky, A.A. New materials and structures in future ULSWI generation / A.A.Orlikovsky, V.V.Vyurkov // Int. Conf. “Micro- and Nanoelectronics – ICMNE-2012″. – Oct. 2012, Zvenigorod, Russia, Book of Abstracts. – P. L1-01.
  27. Дицман, С.А. Средняя и полная энергия отраженных электронов и контраст изображений в РЭМ в зависимости от угла детектирования» / С.А.,Дицман, С.В.Зайцев, А.Е.Лукьянов, Н.А.Орликовский, Э.И.Рау, О.А.Рогов // XXIV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ 2012). (Черноголовка, 29 Мая – 1 Июня 2012г.). – Черноголовка, 2012. – C. 275.
  28. Богоявленский, Д.А. Стабильные нитроксильные радикалы и гидроксиламины как ингибиторы окисления винильных мономеров / Д.А.Богоявленский, И.В.Тихонов, Е.М.Плисс // Материалы XIV Межд. научно-техн. конф. «Наукоемкие химические технологии – 2012» (Тула, Ясная Поляна, Куликово Поле, 21–25 мая 2012). – С. 31.
  29. Никитина, А.Е. Эффекты сольватации при окислении винильных соединений / А.Е.Никитина, С.Н.Леднев, А.В.Сирик, Е.М.Плисс // Материалы Международной конференции молодых ученых и V школы им. академика Н.М. Эмануэля. Москва-Ереван, 9-12 октября 2012 г. – С. 198-199.
  30. Привезенцев, В.В. Структура и свойства кремния, имплантированного ионами цинка, по данным АСМ, РЭМ и РФЭС / В.В.Привезенцев, В.С. Куликаускас, Д.В. Петров, А.Б. Путрик, А.Н. Макунин, П.Д.Черных, Ю.Ю. Лебединский // XXIV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ 2012). (Черноголовка, 29 Мая – 1 Июня 2012г.). – Черноголовка, 2012. – С.123.
  31. Привезенцев, В.В. Формирование наночастиц ZnO в структуре SiO2/Si методом имплантации ионами Zn / В.В.Привезенцев, В.С.Куликаускас, А.Б.Путрик, Д.В.Петров, П.Н.Черных, А.Н.Макунин, А.А.Шемухин // Тезисы докладов ХLII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва, 29-31 мая 2012) / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Университетская книга, 2012. – С.236.
  32. Kaminski, P. Defect centers in semi-insulating Si:Zn revealed by HRPITS / P. Kaminski, R. Kozlowski, and V. Privezentsev // Book Abstr. of the 11th Intern.Workshop on Beam Inj. Ass. of Microstr. in Semicond. (BIAMS 2012). Annaba, Algeria. С. 49.
  33. Privezentsev, V.V. Nanoparticles Formation in Si by Zn+ Ion Implantation / V.V. Privezentsev, K.D. Shcherbachev, V.S. Kulikauskas, D.V. Petrov, Yu.Yu. Lebedinskii // Abstr. Book of Intern. Workshop of Nano-scale Spectr.and Nanotechnol., ETH, Zurich, Switzerland, 2012. – P.53.
  34. Privezentsev, V.V. NANOPARTICLE FORMATION in Si by Zn+ ION IMPLANTED with THERMAL TREATMENT / V.V. Privezentsev, V.S. Kulikauskas, D.V. Petrov // Book Abstr. of the Intern. Conf. Nanotechn. and Nanosci. (NANO 2012), Rhodos, Greece, 2008. P. P38.
  35. Shcherbachev, K.D. Defect Structure Transformation During Thermal Annealing in a Surface Layer of Zn Implanted Si(001) substrates / K.D. Shcherbachev, V.V. Privezentsev, V.S..Kulikauskas, V.V. Zatekin // 11th Biennial Conf. on High-resolution X-ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012). – St. Petersburg, Russia, 2012. – Book of Abstracts. – Р. 327.

Pages: 1 2 3 4 5

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.