Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах

13 сентября 2022 в 15-00

Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах (по материалам диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук)

Докладчик: Тягинов Станислав Эдуардович (ФТИ им. А.Ф. Иоффе)

Семинар будет проводиться в смешанном формате. Для получения ссылки на онлайн версию обращаться к Мяконьких Андрею (miakonkikh@ftian.ru).

Leave a Reply

Your email address will not be published.

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.