Разработаны и внедрены комплексные модели основных фотолитографических процессов. На их основе созданы многофункциональные пакеты прикладных программ мирового уровня, эффективно используемых для дальнейшего исследования, оптимизации, контроля, диагностики и управления процессов фотолитографической технологии.
Ивин В.В., Махвиладзе Т.М., Валиев К.А. Теоретическое рассмотрение вопросов выбора оптимальной формы источника в оптической нанолитографии. Микроэлектроника. 2004. Т. 33. №3. С. 163-174.
Ивин В.В., Махвиладзе Т.М., Валиев К.А. Анализ практических применений внеосевых источников в оптическойнанолитографии. Микроэлектроника. 2004. Т. 33. №4. С. 259-272.