Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники

15:00
Н. А. Орликовский (ФТИАН)
Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
(По материалам диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук)

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Этот сайт использует Akismet для борьбы со спамом. Узнайте, как обрабатываются ваши данные комментариев.