Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах

13 сентября 2022 в 15-00

Моделирование процессов деградации, вызываемых горячими носителями, в современных кремниевых транзисторах (по материалам диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук)

Докладчик: Тягинов Станислав Эдуардович (ФТИ им. А.Ф. Иоффе)

Семинар будет проводиться в смешанном формате. Для получения ссылки на онлайн версию обращаться к Мяконьких Андрею (miakonkikh@ftian.ru).

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Этот сайт использует Akismet для борьбы со спамом. Узнайте, как обрабатываются ваши данные комментариев.