Education » Центр коллективного пользования «Диагностика микро- и наноструктур» в ЯФ ФТИАН

Центр коллективного пользования научным оборудованием «Диагностика микро- и наноструктур» создан при Ярославском госуниверситете 1 ноября 2006 г., приказ №382, решение Ученого совета ЯрГУ от 24.10.2006 г.

Центр входит в национальную нанотехнологическую сеть.

Центр участвует в мероприятиях Федеральных целевых программ:

  • Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2012 годы.
  • Научные и научно-педагогические кадры инновационной России.

Центр располагает самым современным аналитическим и диагностическим оборудованием.

  • Заказной анализ широкого класса объектов методами:

– вторичной ионной масс-спектрометрии (IMS-4F);

– времяпролетной ионной масс-спектрометрии (IONTOF SIMS5);

– электронной сканирующей микроскопии (Supra 40);

– туннельной сканирующей микроскопии (GPI-Cryo-SEM);

– электронно-ионной сканирующей микроскопии (Quanta 3D 200i);

– просвечивающей электронной микроскопии (Tecnai G2 F20 U-TWIN);

– зондовой микроскопии (СММ 2000) и профилометрии (модель 130);

– оже-спектроскопии (PHI-660);

– ИК фурье-спектроскопии (IFS 113-v);

– рентгеноструктурного анализа (ARL X’tra);

– Рамановской спектрометрии (EnSpector R532).

ЦКП объединяет оборудование Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова (ЯрГУ) и Ярославского Филиала  Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института Российской академии наук (ЯФ ФТИАН РАН).