2018

  1. Звездин, Н.Ю.  Анализ вкладов различных факторов в магнитооптический сигнал трехмерных структур типа магнитофотонных кристаллов. / Звездин Н.Ю., Папорков В.А., Проказников А.В., Царев И.С. // Журнал технической физики. 2018, выпуск 6, стр. 892. DOI: 10.21883/JTF.2018.06.46022.2133 
  2. Бабушкин, А.С. Влияние низкоэнергетической ионно-плазменной обработки на остаточные напряжения в тонких пленках хрома / Бабушкин А.С., Уваров И.В., Амиров И.И. // Журнал технической физики, 2018, Т. 88, вып. 12 С.1845-1852. – DOI: 10.21883/JTF.2018.12.46786.37-18 
  3. Богданов, Ю.И. Исследования в области квантовых информационных технологий, проводимые в Лаборатории физики квантовых компьютеров Физико-технологического института РАН / Богданов Ю.И., Кокин А.А., Фастовец Д.В. // История науки и техники. 2018. №8. С.54-67. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.106 
  4. Гольдштейн, Р.В. Влияние точечных дефектов на трещиностойкость границы соединенных материалов / Р.В. Гольдштейн, Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев // Физическая мезомеханика. 2018. Т.21. № 2. С.14-20. – DOI: 10.24411/1683-805X-2018-12002 
  5. Жаров, А.В. Охлаждающие наножидкости на основе оксида графена для тепловых двигателей // Жаров А.В., Горшков Р.В., Савинский Н.Г., Павлов А.А. // Труды НАМИ. – 2018 – №1 (272). – С. 21–27 . ISSN: 0135-3152 
  6. Жаров, А.В. Теплопроводность, теплоемкость и вязкость охлаждающих наножидкостей / Жаров А.В., Горшков Р.В., Савинский Н.Г., Павлов А.А // Труды НАМИ. – 2018 – №4 (275). – С. 41-46 . ISSN: 0135-3152 
  7. Кемоклидзе, К.Г. НИЗКОВАКУУМНАЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ МАСТОЦИТОВ НАДПОЧЕЧНИКА С РАССЧЁТОМ КОЛИЧЕСТВА СЕКРЕТОРНЫХ ГРАНУЛ НА КЛЕТКУ И РЕДКИМ ОБРАЗЦОМ МИТОТИЧЕСКОЙ ЦИТОТОМИИ / КЕМОКЛИДЗЕ К.Г., ТЮМИНА Н.А., ПУХОВ Д.А. // ВЕСТНИК НОВЫХ МЕДИЦИНСКИХ ТЕХНОЛОГИЙ. 2018. Т.25. №3. С.198-201 
  8. Кешаварздивколаи, К. Кольцевые МЭМС-гироскопы на основе нитрида алюминия. / Кешаварздивколаи, Камран, Лукичев В.Ф., Кальнов В.А., Певцов Е.Ф. // Датчики и системы, 8-9 (228), 2018 г. Стр. 41-45 
  9. Кешаварздивколаи, К. Сравнительная оценка частотных характеристик AlN и ЦТС, применяемых в качестве резонатора в вибрационных кольцевых гироскопах / Кешаварздивколаи, Камран, Лукичев В.Ф., Кальнов В.А., Певцов Е.Ф. // Нано и микросистемная техника. 2018. №3 . С.186-192. DOI: 10.17587/nmst.20.186-192 
  10. Клементе, И.Э. Применение адсорбционной эллипсометрической порометрии для исследования пленок пористых диэлектриков с ультранизкой диэлектрической проницаемостью / И.Э. Клементе, А.В. Мяконьких // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). стр. 74-88 
  11. Кудря, В.П. Физические принципы диагностики пучков быстрых нейтральных частиц. II. Методы определения полного потока частиц в пучке / Кудря В.П., Маишев Ю.П. / В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – (ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – ISBN 978-5-02-040089-4,(с. 89-98) 
  12. Лукичев, В.Ф. ОБ ОДНОЙ МЕТОДИКЕ ПРОЕКТИРОВАНИЯ ТОПОЛОГИИ ВЧ МЭМС-КЛЮЧА / ЛУКИЧЕВ В.Ф., КАЛЬНОВ В.А., БЕЛЕВЦЕВ А.М., КРЮЧКОВ В.Л., ЕПАНЕШНИКОВА И.К., ДРЯГИН И.О. // Нано- и микросистемная техника. Т.20. №12. 2018. С.713-718. DOI: 10.17587/nmst.20.713-719 
  13. Лукичев, В.Ф. Физико-технологическому институту РАН – 30 лет / Лукичев В.Ф., Руденко К.В., Кальнов В.А. //История науки и техники. 2018. №8. С.3-17. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.101 
  14. Lukichev, V.F. 30th ANNIVERSARY OF THE INSTITUTE OF PHYSICS AND TECHNOLOGY OF RAS / V.F. Lukichev, K.V. Rudenko, V.A. Kalnov // History of Science and Engineering. 2018. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.101 
  15. Лукичев, В.Ф. ИССЛЕДОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ В ОБЛАСТИ МИКРО- И НАНОСИСТЕМНОЙ ТЕХНИКИ / Лукичев В.Ф., И.И. Амиров // История науки и техники, 2018, т. 8 Стр. 92-99. DOI: 10.25791 / intstg.08.2018.109 
  16. Маишев, Ю.П. Развитие ионно-лучевых технология в Физико-технологическом институте РАН // История науки и техники, 2018, № 8, с. 37 46. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.104 
  17. Маишев, Ю.П. Формирование сверхтонких сплошных пленок методом ионно-лучевой обработки / Маишев Ю.П., Шевчук С.Л., Кудря В.П. // Прикладная физика–Applied Physics, 2018, № 4, с. 79?83. (Scopus, РИНЦ)
  18. Маишев, Ю.П. Экспериментальное исследование плотности потока пучка быстрых нейтральных частиц методом кварцевого микровзвешивания / Маишев Ю.П., Шевчук С.Л., Кудря В.П. // Прикладная физика–Applied Physics, 2018, № 2, с. 86?89. (Scopus, РИНЦ)
  19. Махвиладзе, Т.М. Исследование условий изменения формы интерфейсов проводящих материалов под действием электрического тока / Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев. // В кн: Труды ФТИАН -Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). С.107-117
  20. Махвиладзе, Т.М. История Лаборатории математического моделирования физико-технологических процессов ФТИАН РАН // История науки и техники. 2018. №8. С.18-22. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.102
  21. Махвиладзе, Т.М. МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭФФЕКТОВ ВОЗДЕЙСТВИЯ ВНУТРЕННИХ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ НА КИНЕТИКУ РАСПАДА ПЕРЕСЫЩЕННОГО РАСТВОРА КИСЛОРОДА В КРЕМНИИ / МАХВИЛАДЗЕ Т.М., САРЫЧЕВ М.Е. // Микроэлектроника. 2018. Т.478. №1. С.14-22. – DOI: 10.7868/S0544126918010027
  22. Махвиладзе, Т.М. Теория электромиграционной неустойчивости границы соединенных проводящих материалов / Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев. // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). С.99-106
  23. Митропольский, Ю.И. Концепция стратегического развития вычислительной техники // Электроника: наука, технология, бизнес, 2018, № 6, С. 100-112. DOI: 10.22184/1992-4178.2018.177.6.100.112
  24. Митропольский, Ю.И. Лаборатория архитектуры высокопроизводительных вычислительных систем (АВВС): Очерк о развитии архитектуры отечественных суперкомпьютеров // История науки и техники,2018, № 8, C. 68-74. – DOI: 10.25791/intstg.08.2018.107
  25. Мяконьких, А.В. Технологии формирования затворного HkMG-стека с MIPS-структурой для МДП-транзистора с критическими размерами 32/28 нм / А.В. Мяконьких, А.Е. Рогожин, А.А. Татаринцев, К.В. Руденко, О.П. Гущин // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). стр. 42-58
  26. Мяконьких, А.В. Электронная литография и анизотропное плазмохимическое травление кремниевых fin-структур для finFET И SiNW транзисторов с размерами 11–22 нм, / А.В. Мяконьких, А.А. Татаринцев, К.В. Руденко // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). стр 59-65
  27. Некипелов, С.В. NEXAFS И XPS ИССЛЕДОВАНИЯ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ / НЕКИПЕЛОВ С.В., ЛОМОВ А.А., МИНГАЛЕВА А.Е., ПЕТРОВА О.В., СИВКОВ Д.В., ШОМЫСОВ Н.Н., ШУСТОВА Е.Н., СИВКОВ В.Н. / Известия КОМИ научного центра УРО РАН. 2018. №3 (35). С.19-22. – DOI: 10.19110/1994-5655-2018-3-19-22
  28. Постников, А.В. Исследование ударных волн в электрохимическом микро- актюаторе / Постников А.В. // Письма в ЖТФ. 2018. Т.44. В.23. С.104-110. – DOI: 10.21883/PJTF.2018.23.47017.1747
  29. Руденко, К.В. ЛАБОРАТОРИЯ МИКРОСТРУКТУРИРОВАНИЯ И СУБМИКРОННЫХ ПРИБОРОВ: 30 ЛЕТ ПУТИ ОТ МИКРО- К НАНОПРИБОРАМ / К.В. Руденко, В.В. Вьюрков // История науки и техники, 2018, т. 8 Стр. 23-36. DOI: 10.25791/intstg.08.2018.103
  30. Руденко, М.К. Поведение одноэлектронных солитонов вблизи металлической поверхности в магнитном поле / М.К. Руденко, Д.А. Свинцов, С.Н. Филиппов, В.В. Вьюрков // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27.– 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). с.18-27
  31. Свинцов, Д.А. Низкоразмерные пролетные диоды и транзисторы для генерации и детектирования терагерцового излучения / Д.А. Свинцов, М.К. Руденко, А.Б. Немцов, А. Пильгун, И.А. Семенихин, Л.Е. Федичкин, В.В. Вьюрков, К.В. Руденко // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). с. 5-18
  32. Федичкин, Л. Е. Применение и исследование квантовых блужданий / Л. Е. Федичкин, Ф. П. Мещанинов // ИТОГИ НАУКИ И ТЕХНИКИ. Современная математика и ее приложения, 2018, том 151, 105–116
  33. Хорин, И. А. Технологии электронной компонентной базы : учебное пособие / И. А. Хорин. – Саратов : Ай Пи Эр Медиа, 2018. – 280 c. – ISBN 978-5-4486-0210-8. Печ. л. 17,38. Тираж 1000 экз. https://doi.org/10.23682/73345
  34. Цуканов, А.В. Источник терагерцевых фотонов на квантовых точках в микрорезонаторе, интегрированный в квантовый чип / Цуканов А.В., Катеев И.Ю. // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). С. 28-41
  35. Цуканов, А.В. Лаборатория архитектуры высокопроизводительных вычислительных систем: Квантовые биты на полупроводниковых квантовых точках с оптическим управлением // История науки и техники. 2018. №8. С. 75-91. – DOI: 10.25791/intstg.08.2018.108
  36. Чуев, М.А. Разработка современных методов диагностики материалов микро- и наноэлектроники методами рентгеновской дифрактометрии, гамма-резонансной спектроскопии и магнитометрии / М.А. Чуев, А.А.Ломов // История науки и техники, 2018, т. 8, с. 47-53. – DOI:10.2579/intstg.08.2018.105
  37. Шумилов, А.С. Моделирование травления высокоаспектных канавок в кремнии в хлорной плазме. / Шумилов А.С., Амиров И.И., Лукичев В.Ф. // В кн: Труды ФТИАН – Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование / отв. ред. К.В. Руденко. – М.: Наука, 1991–2018 – ISSN 0868-7129. T. 27. – 2018. – 138 с. – (ISBN 978-5-02-040089-4, п.л. 11,7, тираж 300 экз). С. 118-136

Pages: 1 2 3 4 5 6

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *

This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.